1、支持JTAG.NET测试软件系统进行JTAG测试,软件加载以及研发调试的各项功能；
2、支持JAPE对ARM/DSP/AVR等嵌入式系统的高速加载；
3、支持被测试板卡的工作电压从1.2V～5V ；
4、使用以太网作为控制总线；
5、提供2x5的接头连接到被测试板卡；
6、支持最高频率50MHz；
7、支持线路延迟补偿；
8、可支持8个TAP并行测试,串行测试。

1、最多支持将六个JTAG测试端口串成一条链，进行多链测试；
2、多个TAP可以最多工作在三种不同的电压；
3、支持多级串链，从而可以支持任意多个TAP测试口；
4、通过不同的跳线连接方式可以支持1～6个任意数量TAP口；
5、支持被测试板卡的工作电压从1.2V到5V；
6、提供2x5的接头连接到被测试板卡；
7、支持最高工作频率48MHz。

1、支持所有边界扫描CPU加载各种FLASH器件
2、支持高速加载各种CPLD/FPGA可编程器件
3、支持线速加载FLASH
4、提供2x5的接头连接到被测试板卡
5、支持最高频率50MHz（视控制卡而定）
6、支持线路延迟补偿（视控制卡而定）

1、支持JTAG.NET测试软件系统进行JTAG测试,软件加载以及研发调试的各项功能。
2、支持被测试板卡的工作电压从1.2V到5V
3、提供低成本、便捷的JTAG应用的硬件板卡
4、使用计算机的25针并口
5、提供2x5的接头连接到被测试板

1、支持JTAG.NET测试软件系统进行JTAG测试,软件加载以及研发调试的各项功能。
2、支持JAPE对ARM/DSP/AVR等嵌入式系统的高速加载。
3、支持被测试板卡的工作电压从1.2V到5V
4、使用计算机的PCI插槽
5、提供2x5的接头连接到被测试板卡
6、支持最高频率50MHz
7、支持线路延迟补偿

1、支持JTAG.NET测试软件系统进行JTAG测试,软件加载以及研发调试的各项功能。
2、支持JAPE对ARM/DSP/AVR等嵌入式系统的高速加载。
3、支持被测试板卡的工作电压从1.2V到5V
4、支持USB1.1/USB2.0接口
5、提供2x5的接头连接到被测试板卡
6、支持最高频率48MHz
7、支持线路延迟补偿

1、硬件系统为PCI/USB插卡形式，采用JTAG方式下载。
2、全球领先的下载速度
3、极速NAND FLASH烧写速度：
4、支持所有ARM7/ARM9。
5、支持SAMSUNG公司全系列NAND FLASH。
6、支持常见NOR FLASH烧写。
7、无键式自动加载。
8、支持研发调试

JTAG板级测试系统的主要应用
基础测试
器件标志码IDCODE测试
USERCODE测试
互联测试
Cluster测试
网络覆盖率分析
测试列项的管理